光學傳遞函數測試儀

光學傳遞函數測試儀能夠測試光學系統、鏡頭、器件的調制傳遞函數MTF、相位傳遞函數PTF、焦距EFL、截距FFL、焦面、畸變、場曲、色差、像散、相對透過率等。

產品時間：2020-05-22

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產品介紹

光學傳遞函數測試儀

英國Image Science公司是世界上光學傳遞函數測量儀的,是專業化從事光學傳遞函數測量儀及相關設備的研制生產商,具有50年的專業經驗，在世界各地享有很高的聲譽且擁有大量的用戶。

光學傳遞函數測試儀應用于可見光、紅外、（單）雙無限（無焦）、有限系統的測量和評價。除光學傳遞函數外，它還可以提供焦距、單項像差、視場等參數的測量。傳函測試儀目前被廣泛應用于光學鏡頭、像增強器、CCD攝像機、紅外成像系統等其它成像系統的像質評價和相關參數測量，可以將測量結果以數據的方式顯示和記錄，更便于進行處理和對比。

1）功能

測試光學系統、鏡頭、器件的調制傳遞函數MTF、相位傳遞函數PTF、焦距EFL、截距FFL、焦面、畸變、場曲、色差、像散、相對透過率等。

2）MTF測試范圍

UVB	Ultra-Violet B	193 - 360 nm
NUV	Near Ultra-Violet	325 - 500 nm
VIS	Visible	400 - 700 nm
NIR	Near Infra-Red	700 - 1000 nm
SWIR	Short-Wave Infra-Red	1 - 3 um
MWIR	Medium-Wave Infra-Red	3 - 5 um
LWIR	Long-Wave Infra-Red	8 - 12 um

3）技術規格

光譜范圍	350nm-1000nm，1-3um，3-5um，8-12um
大離軸角度	±90°
焦距范圍	3-1000mm
可測物鏡口徑	5-200mm
空間頻率范圍	0-1600lp/nm（350nm-1000nm）；0-100 lp/nm（1-3um）； 0-60 lp/nm（3-5um，8-12um）
MTF測量精度	±5’
MTF測量重復性	±0.01
焦距測量精度	優于±0.5%
畸變測量精度	優于±0.5%
場曲測量精度：	優于±5um
色散測量精度	優于±0.002dpt
測查測量精	優于±5um